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    便携金属镀层测厚仪

    • 型   号:CMI243
    • 价   格:

    一般的测试方法,由于探头的“升离效应"导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。便携式、无损测量各种金属镀层

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    CMI243便携金属镀层测厚仪

    CMI243是一款灵便易用的仪器,为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上金属镀层。在小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使其成为紧固件行业应用的工具。

    采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式测厚仪以友好的控制准确、精密的测量

    测量技术:一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的“升离效应”导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

    • 便携式、无损测量各种金属镀层
    • 精度高、稳定性好
    • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
    • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
    • 232接口,可连接打印机或电脑

     

    技术参数

    误差

    ±3%

    分辨率

    0.1um

    小曲率半径

    1.2mm(凸);1.5mm(凹)

    小测量面积

    φ2.5mm

    小基体厚度

    0.35mm

    显示

    3位LCD数显

    测量单位

    um-mils可选

    校准方式

    精密两点校准

    统计数据

    平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)

     

    大值max、小值min

    接口

    232串口

    电源

    1节9V电池

    仪器尺寸

    150x80x30mm

    仪器重量

    260g

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