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                便携金属镀层测厚仪

                • 型   号:CMI243
                • 价   格:

                一般的测试方法,由于探头的“升离效应"导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。便携式、无损测量各种金属镀层

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                CMI243便携金属镀层测厚仪

                CMI243是一款灵便易用的仪器,为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上金属镀层。在小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使其成为紧固件行业应用的工具。

                采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式测厚仪以友好的控制准确、精密的测量

                测量技术:一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的“升离效应”导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

                • 便携式、无损测量各种金属镀层
                • 精度高、稳定性好
                • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
                • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
                • 232接口,可连接打印机或电脑

                 

                技术参数

                误差

                ±3%

                分辨率

                0.1um

                小曲率半径

                1.2mm(凸);1.5mm(凹)

                小测量面积

                φ2.5mm

                小基体厚度

                0.35mm

                显示

                3位LCD数显

                测量单位

                um-mils可选

                校准方式

                精密两点校准

                统计数据

                平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)

                 

                大值max、小值min

                接口

                232串口

                电源

                1节9V电池

                仪器尺寸

                150x80x30mm

                仪器重量

                260g

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